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검사용 소켓

POGO Pin Test Socket

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  • 내구성 및 전기적 성능에서 우수한 장점 보유

  • uBGA를 포함한 다양한 IC 패키지 타입과 호환

  • 긴 수명 주기: 삽입 횟수 100,000 ~ 500,000회

  • 교체가 용이함

  • 기계적 구조 변경 없이 직접 교체 가능

  • 신호 손실이 거의 없는 투명에 가까운 신호 전송

  • 미세 피치 접촉 지원 (0.4 / 0.5 / 0.65 / 0.8 / 1.0 / 1.27 mm)

  • 정격 전류: 2 A (연속)

  • 접촉 저항: < 0.1 Ω (평균)

Metal Pin Type Test Socket

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  • 0.2 mm 간격으로 정렬된 200개의 금속 핀과 실리콘 패드를 적용한,
    0.3 mm 스트로크에서 6 kg 이하의 하중을 갖는 수직 프로빙 구조의
    테스트 소켓

  • 블레이드 핀 공차 : ±10㎛

  • 저항 :  최대 50mΩ

  • 수명 : 최소 10,000회 이상

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